功能用途：

PS/MS專用顯微投影薄片觀測(cè)儀是將磨制拋光后的地質(zhì)薄片放置到樣品板上進(jìn)行檢測(cè)、觀測(cè)、分析，確認(rèn)是否達(dá)到符合研究標(biāo)準(zhǔn)的一種儀器。它可以一次對(duì)拋光后的1至15個(gè)薄片樣片進(jìn)行逐步檢測(cè)，也可以選擇性地進(jìn)行偏光下觀測(cè)、拍照，并能多人同時(shí)進(jìn)行觀測(cè)、討論，保證磨制拋光后的地質(zhì)薄片達(dá)到最理想狀態(tài)，同時(shí)也可以應(yīng)用于教學(xué)、交流、講座。

該儀器操作非常方便，易于掌握，利用數(shù)字化的選擇，每個(gè)投影圖像都可以被記錄、儲(chǔ)存、并可以通過互聯(lián)網(wǎng)向有關(guān)人員分發(fā)，方便交流研討。