礦物制樣輔助設(shè)備
顯微投影礦物薄片觀測儀
型號:PS2000
產(chǎn)地:法國
功能用途:

功能用途:

PS/MS專用顯微投影薄片觀測儀是將磨制拋光后的地質(zhì)薄片放置到樣品板上進(jìn)行檢測、觀測、分析,確認(rèn)是否達(dá)到符合研究標(biāo)準(zhǔn)的一種儀器。它可以一次對拋光后的1至15個(gè)薄片樣片進(jìn)行逐步檢測,也可以選擇性地進(jìn)行偏光下觀測、拍照,并能多人同時(shí)進(jìn)行觀測、討論,保證磨制拋光后的地質(zhì)薄片達(dá)到理想狀態(tài),同時(shí)也可以應(yīng)用于教學(xué)、交流、講座。

該儀器操作非常方便,易于掌握,利用數(shù)字化的選擇,每個(gè)投影圖像都可以被記錄、儲存、并可以通過互聯(lián)網(wǎng)向有關(guān)人員分發(fā),方便交流研討。

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  • 性能參數(shù)
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性能特點(diǎn)

1、與傳統(tǒng)顯微鏡相比,一次可以進(jìn)行多片地質(zhì)薄片的檢測、觀察、分析、交流工作,確定其磨制拋光樣片是否滿足研究者的要求

2、成像迅速、真實(shí)、直觀、易用

3、對于地質(zhì)薄片制樣者與地質(zhì)研究院所、地質(zhì)學(xué)家來說,是傳統(tǒng)偏光顯微鏡非常優(yōu)質(zhì)替代品

4、投影圖像方便于多人觀察,即使長時(shí)間觀察也不會引起眼部疲勞

5、大區(qū)域顯示樣本,方便比較礦物質(zhì)的結(jié)構(gòu)、濃度及含量。進(jìn)行構(gòu)造地質(zhì)學(xué)分析、粗粒巖和沉積學(xué)測試觀察。

6、采用高性能照明系統(tǒng)使得投影畫面更加清晰

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